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冷熱沖擊試驗(yàn)箱的溫度控制及其滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn)

更新日期:2017-06-29  |  點(diǎn)擊率:1595
 冷熱沖擊試驗(yàn)箱的溫度控制:
    可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
    全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯;
    每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流(過(guò)熱)保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù),確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
    USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿(mǎn)足客戶(hù)的多種需要;
    采用流行的制冷控制模式,可以0%~自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
    制冷及電控關(guān)鍵配件均采用品牌產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn):
    GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
    GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
    GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
    GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
    GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
    GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
    GJB 150.-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
    GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

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